基本信息
标准名称: | 半导体集成电路机械和气候试验方法 |
英文名称: | Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits |
中标分类: | 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理 |
ICS分类: | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
替代情况: | 原标准号GB 4590-84 |
发布日期: | 1996-11-20 |
实施日期: | 1997-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-20 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 49页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理 电子学 集成电路 微电子学